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三维应变测量系统

我司最新研发的三维应变测量系统,实现了真正的三维同步测量,系统变形位移测量精度高,属于可见光波长级,精度可达20nm-30nm。采用自编的独一无二、高效且快速的条纹图像处理以及数值差分算法计算各变形分量的空间导数,不需要实体物理剪切硬件,可同时获取(准)平表面全应变六个分量,即exx= ¶u/¶x, eyy= ¶v/¶x, gxy= ¶u/¶y, gyx= ¶v/¶x, ezx= ¶w/¶x及ezy= ¶w/¶y。基于系统实测变形数据计算出的应变精度不劣于10me。由...

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 我司最新研发的三维应变测量系统,实现了真正的三维同步测量,系统变形位移测量精度高,属于可见光波长级,精度可达20nm-30nm。采用自编的独一无二、高效且快速的条纹图像处理以及数值差分算法计算各变形分量的空间导数,不需要实体物理剪切硬件,可同时获取()平表面全应变六个分量,即exx = u/x, eyy = v/x, gxy = u/y, gyx = v/x, ezx = w/xezy = w/y。基于系统实测变形数据计算出的应变精度不劣于10me。由于采用单像素为差分步长,差分法得到的应变值相当于标距0.05-0.1mm长度内的相对变形量,比常规电阻应变片(长度至少1mm)测得的精度更高。


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